CEZAMAT/ZP20/2026 Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii (ID 1366279)
Należy dostarczyć urządzenie do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii. Urządzenie to powinno spełniać określone normy i wymagania techniczne, które są kluczowe dla prowadzenia badań w laboratoriach. Wymagana jest również dostawa dokumentacji technicznej oraz wsparcie serwisowe.
Postępowanie ogłosił Politechnika Warszawska w trybie: przetarg. termin za 7 dni (30.09.2026). Postępowanie należy do branży Wyposażenie i materiały. Dane pochodzą z publicznego ogłoszenia; pełną dokumentację i analizę warunków udziału pokazujemy zalogowanym użytkownikom.
Zamawiający
Politechnika Warszawska
Termin składania ofert
30.09.2026
Tryb postępowania
przetarg
Na co zwrócić uwagę w tym postępowaniu
Nasza analiza wychwyciła tu 1 sygnał ostrzegawczy, liczony z danych publicznych:
mało ofert w postępowaniach tego zamawiającego
Sygnał nie jest zarzutem - to powód, żeby sprawdzić postępowanie, zanim poświęcisz dwa dni na ofertę. Wyliczenie i cytat stojący za każdym z nich pokazujemy zalogowanym: załóż darmowe konto.
Termin jeszcze nie minął. Załóż darmowe konto, żeby zobaczyć pełną dokumentację tego postępowania, warunki udziału i wymagane dokumenty - oraz dostawać podobne przetargi mailem tego samego dnia. Zakładam konto (30 dni za darmo).